XP 243E 引脚浮起检测功能
QFP,广州XP243E,VQFP,XP243E板卡,SOIC,FujiXP243E贴片机,接插件等有引脚元件的引脚浮起可以以*特的光学系统用影像处理进行检查。测定检测面上全部引脚的上下方向的位置,比较浮起的引脚和弯下的引脚之间的距离是否在公差值范围内。
XP 243E 引脚浮起检测功能
QFP,VQFP,SOIC,接插件等有引脚元件的引脚浮起可以以*特的光学系统用影像处理进行检查。测定检测面上全部引脚的上下方向的位置,比较浮起的引脚和弯下的引脚之间的距离是否在公差值范围内。
软件版本更新 吸收芯片元件冲击的备份单元
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S:单吸嘴
V:MELEF用吸嘴
L:直吸嘴/W:白吸嘴
G:带橡胶垫圈的吸嘴
吸嘴外径(1/10mm)/长边*短边
HM:高速射片多重吸嘴
S:单吸嘴
V:MELEF用吸嘴
L:直吸嘴/W:白吸嘴
G:带橡胶垫圈的吸嘴
吸嘴外径(1/10mm)/长边*短边
HM:高速射片多重吸嘴
S:单吸嘴